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高低溫測(cè)試儀的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)闡述 |
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| 時(shí)間：2013-1-8 8:24:49 |
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高低溫測(cè)試儀是航空、汽車、家電、科研等測(cè)試設(shè)備，是用于測(cè)試和確定電子電工、材料及其他產(chǎn)品在進(jìn)行高溫、低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。下面是我公司提供的高低溫測(cè)試儀的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，希望對(duì)廣大客戶有所幫助。
高低溫測(cè)試儀的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則等相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
高低溫測(cè)試儀測(cè)試具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。 |
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